+57 (601) 7042311
TargetSystem se ha diseñado para la preparación del objetivo de componentes microelectrónicos y su desestratificación. Es la primera herramienta de análisis de fallos que permite la alineación y medición en tiempo real de objetivos tanto visibles como ocultos, tales como microvías o BGAs. La preparación del sistema es excepcional: +/- 5 µm.
- Reducción significativa del tiempo de preparación
- No depende de las habilidades del usuario
- Total reproducibilidad
- No necesita films abrasivos costosas
Breves tiempos de preparación
Un sistema de preparación inteligente (IPS) adapta automáticamente el tiempo y la tasa de eliminación conforme a las propiedades concretas de la muestra y la superficie de esmerilado/pulido. Esto implica menos mediciones y el tiempo de preparación se reduce a menos de 30 minutos.
Reproducibilidad
La automatización del proceso hace que TargetSystem no dependa de las habilidades del operario, asegurando la reproducibilidad con independencia del operario.
Bajos costes operativos
TargetSystem se puede utilizar con cualquier papel SiC, o cualquier otro consumible, y no requiere películas abrasivas costosas.