+57 (601) 7042311
El SPECTROLAB S tiene el primer sistema detector del mundo basado en CMOS que está perfeccionado para análisis de metales de alta gama, gracias a la tecnología CMOS+T patentada de SPECTRO. Desde oligoelementos hasta aplicaciones multimatriz, proporciona análisis extremadamente rápidos, muy precisos y excepcionalmente flexibles. Cuando se trata de rendimiento de muestras, SPECTROLAB S satisface la necesidad de velocidad del mercado del metal. Ejemplo: al analizar acero de baja aleación, puede ofrecer mediciones muy precisas en menos de 20 segundos.
SPECTROLAB S esta diseñado para proporcionar las mediciones más rápidas posibles; y la mayor flexibilidad disponible para el futuro. Es el instrumento elegido por productores de metales primarios y secundarios, los fabricantes de automóviles y aeroespaciales y los fabricantes de productos terminados y semiacabados.
Resultados de alta precisión en menos de 20 segundos (ejemplo: aceros de baja aleación) y análisis de los principales elementos de aleación en menos de 12 segundos. (ejemplo: materiales de hierro, aluminio y cobre)
La exclusiva estandarización de una muestra de iCAL 2.0 ayuda a mantener la misma estandarización, independientemente de la mayoría de los cambios de temperatura y ahorra un promedio de 30 minutos por día.
Hasta un 50 % menos de consumo de argón que los modelos anteriores en modo de espera y un 13 % menos durante el funcionamiento a pleno flujo Límites de detección un 30 % mejorados para el análisis de cobre de alta pureza en comparación con su predecesor
La eficiencia y economía de este instrumento se mejoran continuamente mediante entradas sistemáticas de voz del cliente y pruebas rigurosas de usabilidad. Por eso, ahora un paquete de software completamente renovado ofrece una facilidad de uso aún más funcional y personalizable. El consumo de argón se reduce hasta un 50 % en modo de espera y un 13 % al medir muestras. Un programa de análisis rápido permite la medición en 12 segundos de los principales elementos de aleación en algunos metales clave. Y los límites de detección de trazas (LOD) para cobre de alta pureza mejoran en un 30 %.