Descripción
La interfaz inLux™ permite integrar análisis Raman de alta resolución directamente en la cámara de un microscopio electrónico de barrido (SEM), generando imágenes 2D y 3D de forma simultánea y precisa. Es una solución universal y no invasiva para ampliar las capacidades analíticas de su SEM.
Características
Adquisición simultánea de datos Raman, fotoluminiscencia (PL) y cátodoluminiscencia (CL)
Montaje universal en SEMs de diferentes fabricantes y tamaños de cámara
Análisis no invasivo: sonda retráctil con un solo clic
Imágenes Raman confocales 2D y 3D predeterminadas
Capacidad para analizar volúmenes de más de 0,5 mm por eje
Resolución de control de posición de hasta 50 nm
Visualización óptica de grandes superficies para enfoque en áreas de interés
Automatización completa: cambio de láser con un solo clic
Compatible con hasta dos longitudes de onda láser y módulo
CL opcional
